高分子薄膜表面形貌測(cè)試——復(fù)達(dá)客戶檢測(cè)案例
801 2021年7月19日，檢測(cè)顧問反饋武漢某大學(xué)客戶需要測(cè)試原子力顯微鏡（AFM），接到反饋后，測(cè)試工程師第一時(shí)間與客戶進(jìn)行詳細(xì)溝通，情況如下：
客戶背景
客戶是武漢某大學(xué)的一名研究生，由于課題研究需求，希望我們對(duì)樣品進(jìn)行表面形貌測(cè)試。
樣品名稱
高分子薄膜
客戶需求
樣品表面形貌（二維和三維）、粗糙度。
解決方案
溝通客戶寄送樣品，對(duì)樣品進(jìn)行前處理，包括裁剪、放置樣品等，然后使用AFM（檢測(cè)儀器）進(jìn)行檢測(cè)，確定樣品表面形貌和粗糙度。
客戶反饋
數(shù)據(jù)結(jié)果很滿意，滿足客戶需求，拍的非常清楚。
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